提高超声C扫描图像分辨率的插值方法研究
曹宗杰，潘希德，薛锦，王裕文
（西安交通大学材料科学与工程学院，710049,西安）
摘要:根据超声C扫描成像原理，分析了采样间隔对超声C扫描图像分辨率的影响.采用一种基于局部协方差特征的边缘自适应图像插值方法来提高C扫描图像的分辨率，同时将图像局部均方差作为边缘特征判据，使算法得到了简化.该方法根据低分辨率图像的局部协方差估计出高分辨率图像的插值加权系数，能够在放大图像的同时保留图像的边缘特征.试验结果表明，基于局部协方差特征的图像插值方法明显提高了C扫描图像分辨率，并且减小了边缘模糊效应，因此降低了采样间隔对图像分辨率的影响，提高了图像中缺陷分布评价结果的准确性.
关键词:超声C扫描图像；图像分辨率；插值方法
中图分类号:TG441.7文献标识码:A文章编号:0253-987X(2005)09-0921-04